Disecon PCIE4.0 CB测试夹具支持PCIE1.0〜4.0数据测试

应用场景:支持全带宽PCIE4.0子卡测试(向下兼容性)主要特征出色的阻抗一致性,差分阻抗85Ω±5%。

极低的插入损耗。

每个通道的偏斜差异小于±2ps。

根据PCIE4.0协议,SI性能已优化到16Gbps。

高性能SMP连接器,最大带宽支持高达60Ghz。

自动图案切换,实时显示测试图案。

产品说明Disecon PCIE4.0CBB(ComplianceBaseBoard)测试夹具支持PCIE1.0〜4.0数据测试,板载PCIEX16插槽,支持X1,X4,X8,X16板测试。

单板使用SMP高速连接器与仪器连接,并支持PCIE1.0〜4.0的各种代码切换和代码显示。

板的机械尺寸为150 * 200mm。

2.产品设计PCIE4.0CBB是测试基板。

将经过测试的卡设备插入CBB上相应的插槽中,并将SMP电缆从示波器连接到CBB上的相应测试点。

可以通过ATX连接器或DC圆形连接器从外部为测试板供电。

所有CBB夹具测试板均使用没有穿孔的微带线,并且将阻抗设计控制在85欧姆的差分下,包括3db,6db和13db校准线。

高速SMP连接器用于连接到仪器(最大带宽支持60Ghz)。

CBB单板可以在测试过程中通过按钮自动切换代码模式。

它支持从PCIE1.0到PCIE4.0的多种代码切换,还可以随时调整和重置代码。

Type(类型),双向对称显示。

3.产品测试和测试设备:KEYSIGHT网络分析仪E5071C(300khz-20Ghz)通过同轴电缆和SMP适配器电缆连接到单板校准线。

测试了测试单板的实际差分阻抗,CBB单板的阻抗为85Ω±5%范围。

通过同轴电缆和SMP适配器电缆连接单板校准电缆,以测试单板的插入损耗和回波损耗。

联系方式

NITSUKO日通工公司致力于设计、制造和生产。金属化薄膜电容器的销售始于80多年前。我国电容器在海外市场的良好声誉以及国内市场使我们成为最大和最有经验的供应商之一。我们实际制造的金属化薄膜电容在2000达到了25亿。通过我们的经验,我们可以满足任何需求。知识和广博的资源成为客户的首选。

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