双栅场效应晶体管
<br> <br> 1.确定门G.将万用表转到R×1k文件,测量三个引脚之间的电阻。如果脚和它的脚的电阻是无限的,并且在更换笔之后仍然是无限的,则证明该引脚是G极,因为它与另外两个引脚绝缘。
2.从源极S和漏极D确定在源极和漏极之间存在PN结。因此,可以根据PN结的正电阻和负电阻之间的差异来识别S极和D极。
通过交换计方法测量电阻两次,其中电阻值低(通常为几千欧姆到一万欧姆)并且初级电阻是一次。此时,黑色表笔是S极,红色表笔连接到D极。
3.测量漏源导通电阻RDS(on)短接G-S极,选择万用表的R×1档,将黑色表连接到S极,红色表连接到D极。电阻应为几欧姆至十欧姆。
由于测试条件不同,测得的RDS(on)值高于手册中给出的典型值。例如,使用500型万用表R×1文件测量IRFPC50 VMOS管,并且RDS(on)= 3.2W,其大于0.58W(典型值)。
4.检查跨导,将万用表置于R×1k(或R×100),红色笔放在S极,黑色笔放到D极,手动螺丝刀接触栅格,针应有显着性偏转,偏转越大,管子跨导越高。双栅FET也称为双栅MOS晶体管。
它是一个带有两个控制杆的管子。在结构上,它可以被认为是两个单栅FET的串联连接,并且添加了第二栅极g2,其具有一定的屏蔽效果,使得漏极和第一栅极之间的反馈电容变小。
如图所示,双栅FET高频放大器具有高频调制的彩色电视。双栅极FET高频放大器在结构上被认为是级联放大器的形式。
值得注意的是,栅极g2的电压可以改变FET的正向传输特性曲线的斜率,从而改变高频放大器的增益。
2.从源极S和漏极D确定在源极和漏极之间存在PN结。因此,可以根据PN结的正电阻和负电阻之间的差异来识别S极和D极。
通过交换计方法测量电阻两次,其中电阻值低(通常为几千欧姆到一万欧姆)并且初级电阻是一次。此时,黑色表笔是S极,红色表笔连接到D极。
3.测量漏源导通电阻RDS(on)短接G-S极,选择万用表的R×1档,将黑色表连接到S极,红色表连接到D极。电阻应为几欧姆至十欧姆。
由于测试条件不同,测得的RDS(on)值高于手册中给出的典型值。例如,使用500型万用表R×1文件测量IRFPC50 VMOS管,并且RDS(on)= 3.2W,其大于0.58W(典型值)。
4.检查跨导,将万用表置于R×1k(或R×100),红色笔放在S极,黑色笔放到D极,手动螺丝刀接触栅格,针应有显着性偏转,偏转越大,管子跨导越高。双栅FET也称为双栅MOS晶体管。
它是一个带有两个控制杆的管子。在结构上,它可以被认为是两个单栅FET的串联连接,并且添加了第二栅极g2,其具有一定的屏蔽效果,使得漏极和第一栅极之间的反馈电容变小。
如图所示,双栅FET高频放大器具有高频调制的彩色电视。双栅极FET高频放大器在结构上被认为是级联放大器的形式。
值得注意的是,栅极g2的电压可以改变FET的正向传输特性曲线的斜率,从而改变高频放大器的增益。
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